廣泛應(yīng)用于通信、半導(dǎo)體、芯片、傳感器、微電子等領(lǐng)域。在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害,減少測(cè)試與驗(yàn)證時(shí)間,快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。 | 操作界面 | ||
特點(diǎn) ?? 國(guó)內(nèi)領(lǐng)先超快速冷熱沖擊技術(shù) ?? 自主研發(fā)控制系統(tǒng) ?? 超快速升降溫冷凍系統(tǒng) ?? 高效提升生產(chǎn)效率 ?? 能源節(jié)約達(dá)30%以上 ?? 長(zhǎng)久低溫運(yùn)行測(cè)試零結(jié)霜功能 ?? 可結(jié)合自動(dòng)化線上產(chǎn)品測(cè)試 | 通訊接口 | ||
半導(dǎo)體超快速冷熱沖擊測(cè)試整體解決方案
作者:小編
更新時(shí)間:2025-05-27
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